随着高速光模块向高密度、高速率方向发展，内部光纤阵列（FA）与光芯片（PIC）之间的耦合精度要求不断提升。微小的平面倾角偏差，都可能导致耦合过程中发生端面接触、机械划伤等问题，影响光路耦合效果，甚至造成器件损坏。
如何在耦合前精准识别两者的相对倾角，实现平行对位，成为光模块精密制造中的重要环节。
在FA耦合定位过程中，主要面临的难点：
01 FA尺寸小，定位精度要求高
FA结构精密，耦合前需要准确判断FA与光芯片（PIC）之间的平面姿态，避免因倾角偏差造成接触损伤。
02 透明材质，测量容易受到干扰
FA相关透明材料存在多层界面，传统检测方式容易受到反射信号干扰，造成上下表面识别困难，影响高度测量的准确性。
03 高速生产，对检测效率与稳定性要求高
随着光模块生产向规模化发展，检测方案需要兼顾测量精度、响应速度与重复稳定性，为后续自动化对位提供可靠的数据依据。
针对光模块FA耦合前的定位需求，太阳娱场城采用光谱共焦位移传感器SCI04012，基于光谱共焦测量原理，可识别满足测量条件的透明材料上下表面，降低多层界面反射对测量结果的干扰，为精密定位提供可靠的高度数据。
高精度测量：分辨率达0.006μm，直线性为±0.8μm，满足精密高度测量与平面姿态分析需求。
高速采样：最高采样频率达33kHz，能够满足自动化产线对检测效率的要求。
适配透明材料：基于光谱共焦原理，改善透明材料上下表面识别的测量条件，降低多层界面反射带来的干扰。
非接触检测： 减少检测过程对精密器件的接触影响，适用于对表面保护与定位精度有较高要求的应用场景。
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